小型 EBSD 探測器

QUANTAX ED-XS系統以精巧的解決方案提供先進的 EBSD 與 EDS 功能，強化我們桌上型 SEM 的分析效能。此一整合能以無與倫比的精準度與效率進行全面的材料分析，將強大的分析工具帶到精巧的外型尺寸中。

以下是其優點：

• 半自動晶粒尺寸與形狀分佈。
• 利用子集對微觀結構進行定量分析。
• 變形晶粒與再結晶晶粒的面積/體積比例。
• 晶粒邊界分析。
• 相識別與分佈分析。
• 化學與結晶結果的相關性。
• 取向分佈 - 結晶紋理分析。

The QUANTAX ED-XS system provides advanced EBSD and EDS capabilities in a compact solution, enhancing the analytical performance of our tabletop SEMs. This integration allows for comprehensive material analysis with unparalleled precision and efficiency, bringing powerful analytical tools to a compact form factor.

Here are its benefits:

• Semi-automatic grain size and shape distribution
• Quantitative analysis of microstructures using subsetting
• Area/volume fraction of deformed vs. recrystallized grains
• Grain boundary analysis
• Phase identification and distribution analysis
• Correlation of chemical and crystallographic results
• Orientation distribution – crystallographic texture analysis